BEGIN:VCALENDAR
PRODID;X-RICAL-TZSOURCE=TZINFO:timetable.tusur.ru
CALSCALE:GREGORIAN
VERSION:2.0
BEGIN:VTIMEZONE
TZID;X-RICAL-TZSOURCE=TZINFO:Asia/Novosibirsk
BEGIN:STANDARD
DTSTART:20160724T020000
RDATE:20160724T040000
TZOFFSETFROM:+0600
TZOFFSETTO:+0700
TZNAME:+07
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260414T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260414T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260428T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260428T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260512T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260512T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260526T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260526T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260609T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260609T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260421T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260421T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260505T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260505T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260519T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260519T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260602T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260602T150000
DESCRIPTION:Практика\, Соболевская О.В.\, Шпит Е.И.
SUMMARY:Профессиональный иностранный язык
LOCATION:рк 125\, рк 125а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260418T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260418T085000
DESCRIPTION:Практика\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260502T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260502T085000
DESCRIPTION:Практика\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260516T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260516T085000
DESCRIPTION:Практика\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260530T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260530T085000
DESCRIPTION:Практика\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260613T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260613T085000
DESCRIPTION:Практика\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260415T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260415T164500
DESCRIPTION:Практика\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260429T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260429T164500
DESCRIPTION:Практика\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260513T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260513T164500
DESCRIPTION:Практика\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260527T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260527T164500
DESCRIPTION:Практика\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260610T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260610T164500
DESCRIPTION:Практика\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260425T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260425T085000
DESCRIPTION:Лекция\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260509T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260509T085000
DESCRIPTION:Лекция\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260523T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260523T085000
DESCRIPTION:Лекция\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260606T102500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260606T085000
DESCRIPTION:Лекция\, Мостовщиков А.В.
SUMMARY:Планирование эксперимента
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260421T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260421T131500
DESCRIPTION:Курсовое проектирование\, Чистоедова И.А.
SUMMARY:Современные микро- и нанотехнологии
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260505T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260505T131500
DESCRIPTION:Курсовое проектирование\, Чистоедова И.А.
SUMMARY:Современные микро- и нанотехнологии
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260519T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260519T131500
DESCRIPTION:Курсовое проектирование\, Чистоедова И.А.
SUMMARY:Современные микро- и нанотехнологии
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260602T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260602T131500
DESCRIPTION:Курсовое проектирование\, Чистоедова И.А.
SUMMARY:Современные микро- и нанотехнологии
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260420T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260420T183000
DESCRIPTION:Лекция\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260504T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260504T183000
DESCRIPTION:Лекция\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260518T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260518T183000
DESCRIPTION:Лекция\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260601T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260601T183000
DESCRIPTION:Лекция\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260422T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260422T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260506T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260506T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260520T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260520T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Шандаров С.М.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260414T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260414T183000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260428T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260428T183000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260512T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260512T183000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260526T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260526T183000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260609T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260609T183000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260414T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260414T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260428T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260428T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260512T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260512T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260526T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260526T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260609T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260609T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Физические основы надежности изделий твердотельной электроники
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260420T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260420T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260504T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260504T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260518T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260518T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260601T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260601T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 237
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260511T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260511T164500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260525T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260525T164500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260608T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260608T164500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260415T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260415T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260429T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260429T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260513T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260513T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260527T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260527T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260415T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260415T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260429T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260429T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260513T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260513T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260527T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260527T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сычев А.Н.
SUMMARY:Измерение СВЧ параметров элементов ИМС
LOCATION:ф 329
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260422T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260422T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260506T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260506T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260520T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260520T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260603T145000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260603T131500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260511T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260511T183000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260525T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260525T183000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260608T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260608T183000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сахаров Ю.В.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260422T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260422T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260506T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260506T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260520T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260520T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260603T163500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260603T150000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Сальников А.С.
SUMMARY:Моделирование и проектирование гетероструктурных СВЧ МИС
LOCATION:ф 124
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260421T121500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260421T104000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Проектно-технологическая практика (рассред.)
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260505T121500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260505T104000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Проектно-технологическая практика (рассред.)
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260519T121500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260519T104000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Проектно-технологическая практика (рассред.)
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260602T121500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260602T104000
DESCRIPTION:Практика\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Проектно-технологическая практика (рассред.)
LOCATION:ф 217
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260427T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260427T164500
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Жидик Ю.С.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260427T200500
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260427T183000
DESCRIPTION:Лабораторная работа\, Жидик Ю.С.
SUMMARY:Проектирование и технология электронной компонентной базы
LOCATION:ф 115а
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTEND;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260603T182000
DTSTART;TZID=Asia/Novosibirsk;VALUE=DATE-TIME:20260603T164500
DESCRIPTION:Лекция\, Смирнов С.В.
SUMMARY:Интегральная оптоэлектроника
LOCATION:ф 204
END:VEVENT
END:VCALENDAR